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等离子体所GEM相机取得阶段性物理结果
2019-09-02 | 作者:瞿火祥 |点击: | 【 【打印】【关闭】

  近日,在主要电子加热模式下,李二众课题组应用GEM相机获得R-Z平面内铁杂质的二维分布,观测到其输运和等离子体宏观扰动。相关研究结果发表在Nuclear Fusion期刊上(卷:59,页码:106030)。

  由于电子动理学效应的影响,等离子体杂质输运和湍流会跟随电子离子温度之比发生变化,进而影响约束性能。实验上通过射频波加热提高电子温度,此时等离子体具有很强的轫致辐射,同时重杂质线辐射进入软X射线波段。利用二维GEM相机观察软X波段的辐射,其反演过程不依赖平衡位形,在分析宏观扰动和杂质输运方面具有优势。芯部电子温度~3keV时,高电离态铁对GEM计数率贡献显著增强。高约束ELM-free至ELMy转化期间,电子温度剖面内外不对称时,在中平面上下观测到拉长的宏观扰动,扰动驱使杂质和能量向低场侧输运,导致芯部杂质浓度和温度梯度降低,等离子体约束性能下降。

  以上工作得益于等离子体所相关科研人员的鼎力支持,以及中科院青年创新促进会、国家自然科学基金等项目的资助。

  论文链接:https://dx.doi.org/10.1088/1741-4326/ab36bb 

   

  图1.电子加热模式条件下芯部Fe杂质浓度分布

   

  图2.R-Z平面发射率扰动项

 
 
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